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                Sun
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                分析检测与资源评价

                v 分析测试

                        致力于矿石、选冶产品及物料、有色金属及合金、矿用药剂、环境样品、稀贵金属、再生金属、职业健康的质量检测及质量评价研究。拥□有完善的ISO/IEC17025实验室质量管理体系。具有国家实验室认可、国家级实验室资质认定、国家质检中心授权的检测资质以及地勘实验测试甲级资质。为首批获授权的国家重有色金属质量监督检验中心、国家进出口商品检验有色金属认可实验室、科技成果检测鉴定国家级机〗构。

                拥有高』纯分析室、环境分析室、火试金分析⌒ 室、金属分析室、矿物分析室、碳硫分析室和有机分析室等专▽业实验室。配备有电感耦合等≡离子体-质谱、电感耦合等离子体-原子发射光谱、原子吸收光谱、碳硫分析、气相色谱-质谱、离子色谱、红外与拉◥曼光谱等先进的分析仪器设备70多台套。

                ■ 过程分析:矿产资☆源开发利用及材料制备过程快速/在线分析技术。

                ■ 高灵敏度分】析:矿物原料、矿产品及有色金属高灵敏度分∩析技术。

                痕量分析:金属材料质量控制的高纯分析与痕量分析技@ 术。

                ■ 分离技术:复杂物料检测的高效分离技术。

                ■ 检测标♀准化:有色金属及矿◆石分析标准研究。

                ■ 贵金属检测:贵︻金属化合物、贵金属合金、含∮有贵金属物料和废料的定性、定量分析。

                ■ 实验室设计、设备成套、技术咨询、人员培训和分析测试实验室整体解决方案。


                v 资源评价与●检测

                 致力于矿石的工艺性质以及选冶过程有关产品的工艺∞矿物学研究。评价矿产■资源的可利用性,为矿产资源综合利用方案的制定提供指导;诊断选矿工艺流程缺陷,为≡流程优化提供重要参考依据。

                具有地勘实验测试甲级资质▓,配备有矿物自动分析仪(MLAQuanta 600电镜、Genesis能谱)、X射线ω 衍射分析仪(日本理学Ultima IV)、比表面及孔隙度测定↘仪(NOVA-2200E)、纳米粒度及表面电位测定仪(Zetasizer NANO-ZS)、干湿法激光粒度测定仪(MALVERN)、扫描电镜(S-3500N扫描电子显微镜、INCA能谱分析仪;ZEISS EVO18扫描电子显微镜、Bruker、电制↑冷双探头X射线能谱仪)、透射电镜(JEM-2100(HR) INCA能谱仪)等先进的仪器设备。

                ■ 工艺矿物≡学研究

                Ø 矿石工艺矿物学研究

                研究矿石中矿物组成及☆含量,重要矿物分布特征及其粒ξ度组成,有益、有害元素赋存状态等,对矿石可利用性做出※评价。

                Ø 选矿流程产品工艺矿物学研究

                利用各种工艺矿⌒物学参数测试手段对选矿厂选矿流程产品进行工艺矿物学考察,分析尾矿有价矿物丢失及精矿中有害杂㊣ 质混入的原因,查找选矿流程存在的缺陷。

                Ø 冶金产品工艺矿物学研究

                研究冶金工艺产品中的矿物(相)组成、含量,重要矿物(相)分布特征及其粒度组成,有益、有害元素赋存状态,为提高冶金产品的质量及元素的综合利用提供理☉论依据。

                 

                ■ 岩矿鉴定

                    研究岩石、矿石的主要矿物组成及嵌布特征。

                ■ 化学物Ψ相分析

                    地质、选矿、冶金、化工、材料◢等样品中某种特定元素的化学物相分析,涉及铜、铅、锌、铁、钴、镍、锑、钼、钨、锡、铋、钛、铬、钒、锰、铝、钽、铌、稀土、金、银、硫、磷、砷等元素。
                 

                ■ 物理检测

                透射电镜样品制备:可▓制备金属、半导体、陶瓷、低温相变材料「、微米粉体材料等透射电镜样品※。

                透射电镜:进行样品晶体结构的电子衍射分析、高分辨像分析及▅成分分析;

                扫描电镜:固体材料及∏矿物样品的微区形貌和成分分析;

                MLA(矿物自动分析仪):自动测定选矿产品中矿物的粒度、解离度以及矿物相对含量等参数;

                X射线衍射分析仪:物相定性分析、物相定量分』析、结晶度分○析以及晶体结构分析。

                 

                ■ 粉体性质检◣测

                    对金属及非金属材料粉体样品的粒度、比表面、孔隙度及表面↓电位测定。